芯片測試的關(guān)鍵指標(biāo)有哪些？

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優(yōu)普士電子(深圳)有限公司2024-11-13

芯片測試的關(guān)鍵指標(biāo)包括測試覆蓋率、測試準(zhǔn)確率、測試效率、測試可靠性等，以評(píng)估測試的全面性和有效性。

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簡介：專注于IC燒錄、燒錄設(shè)備、芯片測試、ic激光打字刻字，秉持“顧客至上誠信為本”的經(jīng)營理念，歡迎洽談咨

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