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南京芯片測試機(jī)廠家

來源: 發(fā)布時間:2023-09-24

下面對本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)或原理進(jìn)行說明:使用本發(fā)明的芯片測試機(jī)進(jìn)行芯片測試時,首先在自動上料裝置上放置多個tray盤,每一個tray盤上均放滿或放置多個待測試芯片,同時在自動下料裝置和不良品放置臺上分別放置空的tray盤。測試機(jī)啟動后,由移載裝置從自動上料裝置的tray盤中吸取待測試芯片移載至測試裝置進(jìn)行測試,芯片測試完成后,移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中,將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中放置。當(dāng)自動上料裝置的一個tray盤中的芯片全部完成測試,且自動下料裝置的空tray盤中全部裝滿測試后的芯片后,移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料裝置。本發(fā)明的芯片測試機(jī)的結(jié)構(gòu)緊湊,體積較小,占地面積只為一平米左右,可滿足小批量的芯片測試需求。芯片測試機(jī)支持多種測試模式。南京芯片測試機(jī)廠家

本發(fā)明在另一實施例中公開一種芯片測試機(jī)的測試方法。該測試方法包括以下步驟:將多個待測試芯片放置于多個tray盤中,每一個tray盤中放置多個待測試芯片,將多個tray盤放置于自動上料裝置,并在自動下料裝置及不良品放置臺上分別放置一個空tray盤;移載裝置從自動上料裝置的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置進(jìn)行測試;芯片測試完成后,移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中,將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中;當(dāng)自動上料裝置的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試,且自動下料裝置的空tray盤中放滿測試合格的芯片后,移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料裝置。南京芯片測試機(jī)廠家芯片測試機(jī)可以進(jìn)行DC和AC測試,以檢測芯片的電性能。

在本發(fā)明的描述中,需要理解的是,術(shù)語“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“中”、“內(nèi)”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,只是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述,而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作,因此不能理解為對本發(fā)明的限制。此外,術(shù)語“頭一”、“第二”等只用于描述目的,而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此,限定有“頭一”、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本發(fā)明的描述中,需要說明的是,除非另有明確的規(guī)定和限定,術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解,例如,可以是固定連接,也可以是可拆卸連接,或一體地連接;可以是直接相連,也可以通過中間媒介間接相連,可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以通過具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。

芯片測試座是一種電子元器件,它是用來測試集成電路芯片的設(shè)備,它可以用來測試和檢查電路芯片的性能,以確保其達(dá)到規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。芯片測試座的基本結(jié)構(gòu)包括主體機(jī)架、測試頭、測試模塊、放大器和控制器等部件組成。 芯片測試座一般用于測試電路芯片的性能,包括電源參數(shù)、噪聲性能、抗干擾性能、靜態(tài)特性和動態(tài)特性等。通常,芯片測試座由多個測試頭組成,每個測試頭可以提供不同的測試功能。芯片測試座的工作原理是,通過測試頭將測試信號輸入到芯片,然后將芯片的輸出結(jié)果和規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行對比。芯片測試機(jī)可以測試芯片的信號幅度和靈敏度。

封裝之后,設(shè)備在晶圓探通中使用的相同或相似的ATE上進(jìn)行終檢。測試成本可以達(dá)到低成本產(chǎn)品的制造成本的25%,但是對于低產(chǎn)出,大型和/或高成本的設(shè)備,可以忽略不計。晶圓的成分是硅,硅是由石英沙所精練出來的,晶圓便是硅元素加以純化(99.999%),接著是將這些純硅制成硅晶棒,成為制造集成電路的石英半導(dǎo)體的材料,將其切片就是芯片制作具體所需要的晶圓。晶圓越薄,生產(chǎn)的成本越低,但對工藝就要求的越高。芯片的工作環(huán)境要求有良好的散熱性,不帶散熱器并且大功率工作的情況只能加速芯片的報廢。芯片其實很靈活,當(dāng)其內(nèi)部有部分損壞時,可以加接外部小型元器件來代替這已經(jīng)損壞的部分,加接時要注意接線的合理性,以防造成寄生耦合。芯片測試機(jī)提供了可靠的測試跟蹤,幫助工程師快速定位測試問題。南京芯片測試機(jī)廠家

芯片測試機(jī)可以檢測到芯片中的誤差。南京芯片測試機(jī)廠家

芯片在測試過程中,會有不良品出現(xiàn),不良品會被放置到不良品放置臺60,從而導(dǎo)致自動上料裝置40上的一個tray盤全部測試完成后,而自動下料裝置50的tray盤中沒有放滿芯片。如圖1所示,為了保障自動下料裝置50的tray盤中放滿芯片后,自動上料裝置40的tray盤才移動至自動下料裝置50,本實施例在機(jī)架10上還設(shè)置有中轉(zhuǎn)裝置60。中轉(zhuǎn)裝置60位于自動上料裝置40及自動下料裝置50的一側(cè)。如圖5所示,中轉(zhuǎn)裝置60包括氣缸墊塊61、中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62及tray盤中轉(zhuǎn)臺63,其中,氣缸墊塊61固定于支撐板12上,中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62固定于氣缸墊塊61上,tray盤中轉(zhuǎn)臺63與中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62相連,中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62可以帶動tray盤中轉(zhuǎn)臺63旋轉(zhuǎn)。南京芯片測試機(jī)廠家