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針對自研的太陽光譜輻照度計入射光學系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)特征,分析了引入余弦誤差的因素,研究了直、漫射輻照度以及漫射-總輻射比的余弦校正方法,開展了實驗室余弦響應(yīng)特性測量和多種儀器的敦煌外場比對試驗.結(jié)果顯示,余弦誤差與積分球入口黑色陽極化內(nèi)壁及結(jié)構(gòu)有關(guān),在入射角為60°時,440nm、500nm、670nm和870nm波段太陽光譜輻照度計的余弦誤差為4.3%~9.1%;由太陽光譜輻照度計獲取的直射輻照度反演得到的大氣光學厚度受到余弦誤差的嚴重影響,余弦校正前后與CE318太陽光度計反演結(jié)果相比,偏差分別為0.11~0.13和小于0.012;基于天空輻亮度各向同性分布假設(shè),余弦校正后四個波段漫射輻照度數(shù)值...

可選地，根據(jù)散射輻射大氣透明度系數(shù)和太陽高度角，計算太陽散射輻射強度，包括：根據(jù)，計算太陽散射輻射強度es(α，z)，k2為常系數(shù)，取值范圍通常為0.6≤k2≤0.9。(三)有益效果本發(fā)明提供一種太陽光照補償值計算方法，至少包括以下有益效果：通過地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像的尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻和拍攝位置高程，計算拍攝時刻的太陽赤緯角、太陽時角、太陽高度角、太陽輻射強度、大氣光學質(zhì)量、直射輻射大氣透明度系數(shù)、直接輻射強度、散射輻射大氣透明度系數(shù)、散射輻射強度、太陽總輻照強度，實現(xiàn)對于不同日期、不同時間、不同地點拍攝的地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像的太陽光照補償值計...

步驟5)中，靶材為鉻靶，功率為11kw，電壓為500v，真空度為8.0e-6torr，鍍膜速度為6mm/s，氬氣流量為110sccm，氧氣流量為90sccm，制得的吸收膜的厚度為80nm；6)反應(yīng)性濺鍍制備抗反射膜：在第六真空鍍膜室中，氬離子撞擊靶材，撞擊出來的硅離子與通入的氧氣發(fā)生化學反應(yīng)生成二氧化硅，反應(yīng)生成的二氧化硅沉積在步驟5)制得的吸收膜的外表面上形成抗反射膜，完成后在吸熱體的基材的外表面上制得包括6層的膜層；步驟6)中，靶材為硅靶，功率為6kw，電壓為560v，真空度為8.0e-6torr，鍍膜速度為6mm/s，氬氣流量為220sccm，氧氣流量為30sccm，制得的抗反射膜的厚度...

et(d，α，z)＝ed(d，α，z)+es(α，z)，(12)其中，ed(d，α，z)與es(α，z)可從操作s102中得出。s104，針對于不同拍攝日期、和/或不同拍攝時間、和/或拍攝位置對應(yīng)的所述地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像，計算各自對應(yīng)的太陽總輻照強度相互之間的差值，得到各個地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像之間的太陽光照補償值。從方程(12)可以看出，由于太陽高度角α(x，y，d，t)由遙感圖像中像素點坐標值(x，y)、圖像拍攝時間在一年中的第d天和拍攝時間t決定，因此太陽總輻照強度et(d，α，z)由遙感圖像中像素點坐標值(x，y)、(x，y)處的高程z，圖像拍攝時間在一年中的第d天和拍...

厚度為0.1～2μm的薄層金屬氧化物或硫化物，如氧化銅、氧化鉻等，具有很高的太陽輻射吸收比和長波輻射透射比。6層構(gòu)成的膜層的緩沖膜、過渡膜、吸收膜的主要成分是氧化鉻等氧化物，能夠吸收波長范圍為0.20～3.0μm的太陽輻射能量并轉(zhuǎn)化為熱能。本申請實現(xiàn)了用于選擇性吸收太陽光譜的膜層的吸收率高、發(fā)射率低以及附著力好，其中的工作原理是：在2500nm波長以下的太陽光反射光譜，反射率越低，吸收率越高，相反的，在2500nm波長以上的太陽光反射光譜，反射率越高，發(fā)射率越低；對基材表面作預(yù)處理，增加吸熱體表面粗超度，能有效增強附著力，根據(jù)標準要求測試，結(jié)果為1級。因為不同物質(zhì)被離子擊出的濺擊產(chǎn)額不同，因此...

以AgAl-Al2O3金屬陶瓷薄膜作為吸收層，成功構(gòu)建了AgAl-Al2O3太陽光譜選擇性吸收涂層。在氮氣氣氛下經(jīng)500℃退火1002 h，其太陽光譜吸收率穩(wěn)定在95%左右，400℃紅外發(fā)射率約在10-11%，如圖1所示（Advanced Materials Interfaces 2016, 3, 1600248）。 目前國內(nèi)外研究人員積極開發(fā)基于熔融鹽（如60% KNO3+40% NaNO3）熱工質(zhì)的高溫太陽能熱發(fā)電系統(tǒng)，其工作溫度常在550℃以上，客觀上對太陽光譜選擇性吸收涂層提出了更為苛刻的要求，如何獲得600℃下具備優(yōu)異熱穩(wěn)定性的太陽光譜選擇性吸收涂層是亟需攻克的難題之一。此外，反...

伴隨工作溫度的升高，如何抑制高溫下熱輻射損失顯得愈發(fā)重要?；谇捌诘难芯炕A(chǔ)，研究組開發(fā)出另一種新型金屬陶瓷薄膜WTi-Al2O3。借助光學模擬設(shè)計，獲得太陽光譜選擇性吸收涂層結(jié)構(gòu)參數(shù)的優(yōu)化范圍，構(gòu)建了WTi-Al2O3太陽光譜選擇性吸收涂層。經(jīng)600℃長時間（840 h）退火，WTi-Al2O3涂層仍保持較高的吸收率~93%，500℃下的熱發(fā)射率*有10.3%，遠低于文獻報道值（>13%@500℃）。研究表明，WTi合金納米粒子內(nèi)金屬Ti的外擴散、偏析及部分氧化可有效抑制W納米粒子的團聚和長大，從而提高涂層的熱穩(wěn)定性，實現(xiàn)對WTi-Al2O3太陽光譜選擇性吸收涂層光學性能和熱穩(wěn)定性的雙重調(diào)控...

正因為如此，來自太陽圓盤一側(cè)的光會因多普勒效應(yīng)而紅移，而另一側(cè)的光會藍移。我們可以觀察和理解這些位移，因為太陽譜線波長相對于大氣氧線的位移——地球大氣吸收產(chǎn)生的氧線相對于望遠鏡是靜止的。從太陽圓盤邊緣到邊緣的比較大多普勒頻移只有~8pm，因此HF-8989-3的儀器分辨率（~1pm），對于測試時必要的。同時，LightMachinery光譜儀的快速采集速率也非常有利于這類測量。與其建立一個復(fù)雜的成像系統(tǒng)來顯示耦合到光譜儀光纖中的太陽圓盤部分，不如簡單地設(shè)置SpectraLoK軟件，在望遠鏡從一個分支掃描到另一個分支時，每100毫秒記錄一次新的光譜。這種太陽能電池非常昂貴，但研究者認為其**重要...

具體實施方式為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。本申請?zhí)峁┝艘环N用于選擇性吸收太陽光譜的膜層的制備方法，包括以下依次進行的步驟：1)反應(yīng)性濺鍍制備強化膜：在***真空鍍膜室中，氬離子撞擊靶材，撞擊出來的鉻離子與通入的氧氣發(fā)生化學反應(yīng)生成氧化鉻，反應(yīng)生成的氧化鉻沉積在吸熱體的基材的外表面上形成強化膜；膜層包括6層，從下到上依次為氧化鉻材...

獲取模塊310，用于獲取地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像的尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻和拍攝位置高程。***計算模塊320，用于根據(jù)遙感圖像尺寸、地理經(jīng)度區(qū)間、地理緯度區(qū)間、拍攝日期、拍攝時刻和拍攝位置高程，計算地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像拍攝位置的太陽直接輻射強度和太陽散射輻射強度。第二計算模塊330，用于根據(jù)太陽直接輻射強度和太陽散射輻射強度，計算地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像的太陽總輻照強度。第三計算模塊340，用于針對于不同拍攝日期、和/或不同拍攝時間、和/或拍攝位置對應(yīng)的地球靜止軌道衛(wèi)星光學遙感圖像，計算各自對應(yīng)的太陽總輻照強度相互之間的差值，得到各個地球靜止軌道衛(wèi)...