測試軟件運(yùn)行后，示波器會自動設(shè)置時(shí)基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測量并匯總成一 個(gè)測試報(bào)告，測試報(bào)告中列出了測試的項(xiàng)目、是否通過、spec的要求、實(shí)測值、margin等。 自動測試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開度測量的一個(gè)例子。信號質(zhì)量的測試還可以  輔 助 用 戶 進(jìn) 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 ， 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能，用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻，并分析對信號質(zhì) 量的影響。

除了一致性測試以外，DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個(gè)關(guān)鍵參數(shù)測試 失敗后，可以針對這個(gè)參數(shù)進(jìn)行Debug。此時(shí)，測試軟件會捕獲、存儲一段時(shí)間的波形并進(jìn) 行參數(shù)統(tǒng)計(jì)，根據(jù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時(shí)對應(yīng)的波形位置， 擴(kuò)展 DDR5 發(fā)射機(jī)合規(guī)性測試軟件的功能。PCI-E測試DDR一致性測試維保

DDR規(guī)范沒有定義模板，這給用眼圖方式分析信號時(shí)判斷信號是否滿足規(guī)范要求帶來挑戰(zhàn)。有基于JEDEC規(guī)范定義的，ds、，dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數(shù),得出的DDR2533寫眼圖的模板，中間的區(qū)域就是模板，中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。嚴(yán)格按規(guī)范來說的話，中間的模板應(yīng)該定義為橫著的梯形，因?yàn)楸３謺r(shí)間是相對于DC參數(shù)的，不過用長方形可以定義一個(gè)更嚴(yán)格的參數(shù)要求。

DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求

因?yàn)镴edec規(guī)范沒有給岀DDR具體的快的上升、下降時(shí)間，通過預(yù)估的方式可以得岀 快的邊沿時(shí)間，但是往往比實(shí)際要快，是基于實(shí)際PCB板材的情況得出的結(jié)果，有 了這個(gè)結(jié)果可計(jì)算出需要的示波器帶寬。 PCI-E測試DDR一致性測試維保DDR眼圖讀寫分離的傳統(tǒng)方法。

DDR的信號探測技術(shù)

在DDR的信號測試中，還有 一 個(gè)要解決的問題是怎么找到相應(yīng)的測試點(diǎn)進(jìn)行信號探 測。由于DDR的信號不像PCle、SATA、USB等總線 一 樣有標(biāo)準(zhǔn)的連接器，通常都是直接 的BGA顆粒焊接，而且JEDEC對信號規(guī)范的定義也都是在內(nèi)存顆粒的BGA引腳上，這就 使得信號探測成為一個(gè)復(fù)雜的問題。

比如對于DIMM條的DDR信號質(zhì)量測試來說，雖然在金手指上測試是方便的找到 測試點(diǎn)的方法，但是測得的信號通常不太準(zhǔn)確。原因是DDR總線的速率比較高，而且可能 經(jīng)過金手指后還有信號的分叉，這就造成金手指上的信號和內(nèi)存顆粒引腳上的信號形狀差異很大。

對于嵌入式應(yīng)用的DDR的協(xié)議測試， 一般是DDR顆粒直接焊接在PCB板上，測試可 以選擇針對邏輯分析儀設(shè)計(jì)的BGA探頭。也可以設(shè)計(jì)時(shí)事先在板上留測試點(diǎn)，把被測信 號引到一些按一定規(guī)則排列的焊盤上，再通過相應(yīng)探頭的排針頂在焊盤上進(jìn)行測試。

協(xié)議測試也可以和信號質(zhì)量測試、電源測試結(jié)合起來，以定位由于信號質(zhì)量或電源問題 造成的數(shù)據(jù)錯誤。圖5.23是一個(gè)LPDDR4的調(diào)試環(huán)境，測試中用邏輯分析儀觀察總線上 的數(shù)據(jù)，同時(shí)用示波器檢測電源上的紋波和瞬態(tài)變化，通過把總線解碼的數(shù)據(jù)和電源瞬態(tài)變 化波形做時(shí)間上的相關(guān)和同步觸發(fā)，可以定位由于電源變化造成的總線讀/寫錯誤問題。 82496 DDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設(shè)備與流程；

為了進(jìn)行更簡單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時(shí)間不同，Agilent獨(dú)有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個(gè)信號必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù)，并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測試。

信號的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來。

除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進(jìn)行定量分析，

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個(gè)模板對讀、寫信號進(jìn)行模板測試，如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR-致性測試探測和夾具；眼圖測試DDR一致性測試故障

DDR命令、地址和地址總線的建立時(shí)間和保持時(shí)間定義。PCI-E測試DDR一致性測試維保

DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種： 一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒，另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內(nèi)存模塊，主要用于服務(wù)器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存，主要用于筆記本) 的形式插  在主板上使用。

在服務(wù)器領(lǐng)域，使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動電路，延時(shí)較小，但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個(gè)內(nèi)存顆粒時(shí)，UDIMM需要保證CPU到每個(gè)內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等，設(shè)計(jì)難度較大，因此UDIMM在容量和頻率上都較低，通常應(yīng)用在性能/容量要求不高的場合。 PCI-E測試DDR一致性測試維保